上海鑄衡廠家生產的這款SGSLC系(xi)列(lie)百分表數顯(xian)測力計(ji)可用(yong)于測(ce)(ce)微量具(ju)<千(qian)分(fen)尺，測(ce)(ce)深(shen)千(qian)分(fen)尺>，指針(zhen)式(shi)量具(ju)<百分(fen)表(biao)(biao)，千(qian)分(fen)表(biao)(biao)，杠桿表(biao)(biao)，內(nei)徑表(biao)(biao)，扭(niu)簧表(biao)(biao)，測(ce)(ce)微計(ji)>計(ji)光學(xue)(xue)儀器<光學(xue)(xue)計(ji)，烏式(shi)干涉儀>等測(ce)(ce)力的(de)檢定，該款千分尺數字測力設備價格具有精度高，使(shi)用(yong)，結(jie)構，操(cao)作等(deng)特點，是計量(liang)部(bu)門的(de)測力(li)檢定儀器

1.測量范圍：0-15N

2.分辨率：0.01N

3.測(ce)量(liang)誤差：±0.5%±0.01N

4.體積(ji)：230×220×310ｍｍ

5.重量：10ｋｇ

1.結構(gou)：

加上多功能的夾(jia)具，來適應裝夾(jia)多種量(liang)儀

2.零位調整(zheng)：

如(ru)無作用可(ke)直接(jie)調(diao)整儀器后部小孔內的零(ling)位可(ke)調(diao)電阻⑾，使(shi)之開機后出現零(ling)點，在本儀器使(shi)用過程中，如(ru)開機后發現顯(xian)示(shi)屏(ping)顯(xian)示(shi)不歸零(ling)或顯(xian)示(shi)“Eｒｒ.ｏｎ"現象。可(ke)先按開機清(qing)零(ling)按扭，。

3.自(zi)校：

使(shi)顯(xian)(xian)示(shi)屏數(shu)字在9.74N-9.86N范圍內，調(diao)整(zheng)為(wei)9.80牛標準值上，打開(kai)電源開(kai)關，按下開(kai)機(ji)清零按鈕(niu)，使(shi)顯(xian)(xian)示(shi)屏數(shu)字為(wei)零，然(ran)后取1ｋｇ砝碼放于受(shou)力盤上，顯(xian)(xian)示(shi)屏數(shu)字應在9.74N-9.86N范圍內(標準值為(wei)9.80N)，

1.外(wai)徑(jing)表及光學儀(yi)器(qi)測力的(de)檢定：

　　將被檢(jian)(jian)的(de)(de)表(biao)(百分表(biao)、千分表(biao)、扭簧表(biao)、測微(wei)表(biao)、杠桿表(biao))、光學儀(yi)器(qi)(光學計管(guan)、烏式干涉管(guan))插進六(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)⑼相應的(de)(de)孔內，并由螺釘(ding)鎖緊(jin)。轉(zhuan)(zhuan)動橫臂(bei)及(ji)六(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)，使被檢(jian)(jian)器(qi)具(ju)(ju)的(de)(de)測頭對準儀(yi)器(qi)受(shou)力盤(pan)(pan)(pan)⑽的(de)(de)平(ping)面位置(zhi)(zhi)，旋(xuan)(xuan)轉(zhuan)(zhuan)立(li)柱上(shang)的(de)(de)升(sheng)降(jiang)羅母⑸使被檢(jian)(jian)表(biao)臨(lin)近接觸受(shou)力盤(pan)(pan)(pan)⑽的(de)(de)平(ping)面位置(zhi)(zhi)時，即鎖緊(jin)定位螺釘(ding)⑷及(ji)橫臂(bei)定向螺釘(ding)⑹和六(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)緊(jin)固羅母⑿。打開(kai)電源開(kai)關⑵，按下開(kai)機清零(ling)按鈕(niu)⑴，使顯示窗⑶上(shang)的(de)(de)數(shu)字為(wei)零(ling)。旋(xuan)(xuan)轉(zhuan)(zhuan)微(wei)調(diao)裝置(zhi)(zhi)⑻，下降(jiang)六(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)，使被檢(jian)(jian)器(qi)具(ju)(ju)測頭與儀(yi)器(qi)受(shou)力盤(pan)(pan)(pan)⑽平(ping)面接觸，繼續調(diao)接微(wei)調(diao)裝置(zhi)(zhi)，即可測得被檢(jian)(jian)器(qi)具(ju)(ju)的(de)(de)反行(xing)程上(shang)的(de)(de)測力。

2.數顯量儀測力計內徑表測力的檢定：

　　將被檢(jian)(jian)內(nei)徑(jing)表(biao)(biao)桿放進(jin)六(liu)(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)V型槽里，調整表(biao)(biao)桿位置，使(shi)之活動測(ce)頭(tou)對(dui)準儀器受(shou)力(li)盤(pan)(pan)(pan)，并用相(xiang)應的(de)(de)壓(ya)板(ban)壓(ya)緊(jin)。打開電源開關(guan)，按下開機清零按鈕(niu)，使(shi)顯示屏數字(zi)為(wei)零。旋轉橫臂及(ji)(ji)六(liu)(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)，使(shi)被檢(jian)(jian)內(nei)徑(jing)表(biao)(biao)的(de)(de)活動測(ce)頭(tou)對(dui)準受(shou)力(li)盤(pan)(pan)(pan)的(de)(de)平(ping)面(mian)(mian)位置，旋轉立柱上(shang)的(de)(de)升降(jiang)羅母(mu)，使(shi)被檢(jian)(jian)表(biao)(biao)臨(lin)近接(jie)觸到(dao)受(shou)力(li)盤(pan)(pan)(pan)的(de)(de)平(ping)面(mian)(mian)時，即(ji)(ji)鎖緊(jin)定位螺釘(ding)、橫臂定向螺釘(ding)及(ji)(ji)六(liu)(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)羅母(mu)。旋轉微調裝置，下降(jiang)六(liu)(liu)(liu)角夾(jia)持盤(pan)(pan)(pan)，使(shi)被檢(jian)(jian)內(nei)徑(jing)表(biao)(biao)活動測(ce)頭(tou)與儀器受(shou)力(li)盤(pan)(pan)(pan)平(ping)面(mian)(mian)接(jie)觸，。繼續(xu)調接(jie)微調裝置，即(ji)(ji)可測(ce)出被檢(jian)(jian)內(nei)徑(jing)表(biao)(biao)的(de)(de)測(ce)力(li)。

3.千分尺測力的檢定：

　　將被檢(jian)(jian)千(qian)分(fen)(fen)尺類(外(wai)徑千(qian)分(fen)(fen)尺、公法線千(qian)分(fen)(fen)尺、數(shu)顯(xian)(xian)(xian)千(qian)分(fen)(fen)尺、測深千(qian)分(fen)(fen)尺、內測千(qian)分(fen)(fen)尺等)放入六(liu)角(jiao)夾持盤相應位(wei)置(zhi)(zhi)(參(can)看示(shi)(shi)意圖)并鎖緊(jin)(jin)。打(da)(da)開(kai)(kai)電源開(kai)(kai)關(guan)，按下(xia)開(kai)(kai)機清零(ling)(ling)按鈕(niu)，使(shi)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)窗數(shu)字為零(ling)(ling)。轉動(dong)橫臂及六(liu)角(jiao)夾持盤，使(shi)被檢(jian)(jian)千(qian)分(fen)(fen)尺活動(dong)測桿(gan)對準(zhun)受(shou)(shou)力(li)盤的(de)鋼球(qiu)位(wei)置(zhi)(zhi)，旋轉立柱上(shang)的(de)升(sheng)降(jiang)羅(luo)母，使(shi)被檢(jian)(jian)千(qian)分(fen)(fen)尺臨近(jin)接觸到受(shou)(shou)力(li)盤的(de)鋼球(qiu)時，即鎖緊(jin)(jin)定位(wei)螺釘、橫臂定向(xiang)螺釘及六(liu)角(jiao)夾持盤的(de)緊(jin)(jin)固羅(luo)母。旋轉千(qian)分(fen)(fen)尺測力(li)裝置(zhi)(zhi)，使(shi)千(qian)分(fen)(fen)尺活動(dong)測桿(gan)與受(shou)(shou)力(li)盤球(qiu)面接觸，當(dang)棘輪發出(chu)打(da)(da)滑聲(sheng)時，儀(yi)器(qi)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)屏(ping)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)數(shu)值，即為千(qian)分(fen)(fen)尺此時的(de)測力(li)。

4.其它量(liang)儀測(ce)力(li)檢定可參照示(shi)意圖(tu)裝夾，并參照前面(mian)量(liang)儀測(ce)力(li)檢定方法使(shi)用(yong)。

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